• RationalVue探针影像复合软件

    RationalVue是由国际知名计量软件公司External-Array Technology Company继RationalDMIS之后推出的又一款全新的非接触多探头复合测量软件。凝聚了External-Array研发团队30年专业计量软件的成功开发经验,与RationalDMIS共享CAD内核和探针测量引擎,共享软件算法。

     

    RationalVue完全继承了CAD无缝链接、100%图形化显示、快速拖拽式操作、实时数模比对、图形报告多样化、算法先进等特点,在具备操作简洁、功能强大的同时,又保证了算法的先进性和可靠性。它是一款真正的3D非接触多探头复合测量软件,将引领非接触测量机进入3D时代,极大程度地拓展了非接触测量机的应用领域,使其能够真正广泛地应用于:五金、模具、机械加工、精密制造、汽车零部件、冲压件、航空航天部件、塑胶橡胶制品、手机行业、PCB板、电子元器件、半导体元器件、平板玻璃(触摸屏&液晶板)、医疗器械、刀具等领域。

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  • SPC统计

    统计过程控制Statistical Process Control)是一种借助数理统计方法的过程控制工具。它对生产过程进行分析评价,根据反馈信息及时发现系统性因素出现的征兆,并采取措施消除其影响,使过程维持在仅受随机性因素影响的受控状态,以达到控制质量的目的。

     

    RationalVue内置的SPC统计分析模块,操作简单方便,为客户提供专业强大的SPC数据统计分析

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  • 激光检测

    激光非接触测量,对产品可以实现无损检测,对于软的,轻的,脆弱的产品具有很大的优势。同时,激光测量可靠性高,效率也高,为客户提供可靠的测量数据。

     

    RationalVue支持基恩士LK-G10/G30/G50/G80等系列的点激光测头,可与影像和探针等不同的传感器复合到同一台机器上进行测量,极大的为客户节约空间,节约成本,节约时间。

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    共焦白光测量具有激光所有的优势,同时测量精度更高,应用范围更广,受材质影响非常小,是测量更优的选择。

     

    RationalVue支持德国Precitec、日本Omron以及基恩士的共焦传感器,为客户提供更加优越的检测效果。

    共焦白光检测

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    复合式测量是行业趋势,现在3C手机行业要求测量位置度、轮廓度等需求越来越多,产品也不再是单一的长宽尺寸。

     

    3D数模的流行,取代了2D。3D本身带有的参数更丰富,曲线、曲面、空间孔等位置更多,相对位置的检测要求也越来越多。复合测量的引入,为客户节约了机器成本的同时,节省了用人成本,节省了空间成本,减少了零件的装夹次数,提高产品质量管控效率。

     

    RationalVue再次提升复合测量的能力,最新支持了多款TP20探针更换架,可放置多个长度和不同角度的测头,测量不同要求的产品。

    探针更换架

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